Uwaga: Na forum proszę rejestrować się pełnym znakiem, inne nicki będą blokowane. Następnie należy się przedstawić pisząc kilka słów o sobie, swoich zainteresowaniach...

NOWE POSTY | NOWE TEMATY | POPULARNE | STAT | RSS | KONTAKT | REJESTRACJA   Login: Hasło: RSS Facebook


HOME · NanoVNA w nocie aplikacyjnej NXP Semiconductors · Wpis #5493103
sq9sat 26.06.2020 03:22:02

Posty: 9 #5493103
Ale o jakich rodzajach pomiarów mówimy?
Zaburzenia na pasmach biorą się z błędów w projektowaniu pod względem kompatybilności elektromagnetycznej - do tego tego typu przyrządy się mają zupełnie nijak. Firm które mogą sobie pozwolić na zestaw do badań EMC (chociażby podstawowe pomiary zaburzeń przewodzonych i promieniowanych - nie-RFowe) jest bardzo niewiele - to jest po prostu nieopłacalne, zawsze się prowadzi badania inżynierskie w jakiejś jednostce specjalizowanej.
No i żadne urządzenia nie pomogą jeśli inżynier projektujący robi coś źle (albo z niewiedzy albo ograniczając koszty).

Natomiast jeśli chodzi o pomiary prostych rzeczy (o których ta nota mówi) dla firm które nie zajmują się stricte radiówką i nie mają specjalistycznego sprzętu - tak, lepszy ten sprzęt niż nic.
I tak większość projektów takich powstaje przez skopiowanie reference designu, bez przemierzenia czymkolwiek.

Zobacz ten wpis w wątku


Aby pisać na forum musisz się zalogować !!!

Załóż własne forum dyskusyjne na iq24.pl